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GA3120集成电路综合测试仪

GA3120集成电路综合测试仪

数字模块

最大数据率

200Mbps

每板数字通道

64 digital channels

最大时钟率

100MHZ

测试向量深度

64M per pin

事件波形

128种

并测能力

up to 32 DUTs parallel test

时钟边沿

6 edges

边沿放置精度

±300ps

最小脉宽

3ns

源阻抗

50Ω±2.5Ω

电平范围

–1.5V~6.5V

电平精度

±10mV

PPMU电压精度

±5mV

PPMU电流精度

±200uA

比较格式选择

Strobe and window

比较阈值范围

-1 ~ 6V

比较阈值分辨率

0.6mV

HVOUT输出电压

5.9V~13.5V

HVOUT输出电流

60mA ~100mA

模拟模块

采集通道数

4

采样速率

100MSPS

存储深度

16Mpts

ADC分辨率

14位

带宽

20MHz

输入范围

±5V

信号发生通道数

4

采样速率

200MSPS

存储深度

16Mpts

DAC分辨率

14位

带宽

50MHz

输出范围

±5V

DPS(电源模块)

电源输出路数

8

输出电压范围

0V~10V

电压精度

±(0.5%+20mV)

最大输出电流

8A

电流测量精度

±(0.2%+5mA)

整机

最大数字通道数

512

最大模拟通道数

8

电源

100~240V AC

最大功耗

≤3000VA

机械尺寸

L×W×H:

620×640×590mm

重量

≤100kg

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